高周波特性測定
無償サンプルテスト実施中
LCP・MPI・フッ素系基板等の5G/ミリ波に対応したベア基板の高周波特性を測定するシステムです。
高周波特性の評価で
お悩みの方へ
基板本来の性能が分からない
コンタクトのバラつきやケーブルの姿勢変化の影響によりノイズが発生するため、本当の実力値が測定できているか心配
特性評価に時間と手間がかかる
実製品を全数評価するには工数がかかり過ぎるが、クーポン検査や抜き取り検査では不良品を見逃してしまうかもしれない
業界標準に準拠しているか不安
エンドユーザーから高速伝送基板の特性評価を求められているが、どのような測定手法がスタンダードなのか分からないこれまでの概念を
覆す全数検査
あらゆる真値を収集して付加価値に
全ての製品のあらゆる測定データを取得できます。品質向上や商品開発へのフィードバックはもちろん、製品保証まで担うことができます。
最も重要なのは
繰り返し再現性
信頼性の高い全自動測定システム
プロービング位置、押し込み量を数µmの範囲で制御し、計測系を極力動かさない独自機構により、40GHzを超える高周波も安定検査。
ケーブルを極力動かさない独自機構を採用しています。
正しい検査で
違いを明らかに
すべての個片の特性変化をとらえる
実際に導入いただいたお客様の声を紹介させていただきます。
「実装後検査との相関を正しく評価できるようになった。」
「予想以上に手作業との測定結果の差が大きかった。」
「正しい検査のおかげで、歩留まりが向上した。」
「今まで見つけられなかった不良を発見できた。」
「製品の本当の性能が分かるようになった。」
「実装前状態で測定すると劇的に効率があがりそう。」
詳しくは、
ぜひご相談ください。
無償サンプルテストサービス実施中
サンプルワークを送って
オンラインで打ち合わせ
訪問や面談が困難な場合、ワークをご送付いただければオンライン会議システム等で対応させていただきます。
また、専任の技術担当が無償でワークテスト・検証を行い結果をご報告いたします。ぜひこの機会に、ご活用ください。
ヤマハファインテック測定チーム
ご相談の流れ
フォームに入力
担当からご連絡
サンプルのご郵送
オンライン説明会
※ご来社もいただけます。
ご相談いただける内容
| 対象基板 | 高速伝送回路を有するリジッド基板、フレックス基板、リジッドフレックス基板など |
|---|---|
| 測定項目 | 挿入損失、反射損失、VSWR、アイソレーション、特性インピーダンス、TDRなど |
| 測定環境 | Keysight社製PXIeマルチポートVNA 周波数：44GHz 8port お手持ちの測定機によるテストもご相談いただけます。 |
※基板の種類によっては無償での対応が難しい場合がございます。また、本ページ内容は予告なく変更・終了する場合があります。あらかじめご了承ください。