高周波特性測定機 マイクロプローバー MPシリーズ

高速伝送基板の周波数特性を高精度・全自動で測定する業界最先端の装置
ベア基板の周波数特性を自動測定する装置です。高いコンタクト精度と繰り返し安定性を両立しました。
ベクトル・ネットワーク・アナライザ対応で複数個片を高速測定できるため、5G社会を担う基板の全数検査や評価・分析に最適です。

マイクロプローバー MPシリーズの特徴

高周波特性の全数測定

自動化により従来は困難であった高周波特性の全数測定を実現しました。
[画像]高周波特性の全数測定 Before
[画像]高周波特性の全数測定 After

圧倒的な繰返し性と再現性

基板の反りや歪みに対してもプローブの接触条件を一定に保つことができるため、圧倒的な測定繰返し性と再現性を実現できます。個片間の微妙な特性の違いを明確に判別できます。
[画像]圧倒的な繰返し性と再現性 Before
[画像]圧倒的な繰返し性と再現性 After

高スループット

マルチポートVNAと組み合わせることで量産適用が可能となります。複数個辺かつ複数トレースの一括測定を実現します。

品質の見える化と100%製品保証

ベア基板の実回路を全数測定できるため、前工程品質へのフィードバックや後工程への品質保証が可能になります。
[画像]品質の見える化と100%製品保証 Before
[画像]品質の見える化と100%製品保証 After

多彩な測定項目

市販のVNAを組み込むことで、用途に応じた多彩な測定ができます。(VNA=ベクトル・ネットワーク・アナライザ)
[画像]多彩な測定項目

両面検査

上下独立のプロービング検査ヘッドにより両面に検査ポイントがある基板にも対応します。
[画像]両面検査

簡単オペレーション

簡単な治具交換システムやコンタクト位置自動調整で技能に依存しない操作ができます。
[画像]簡単オペレーション

100%トレーサビリティ

個片毎の測定結果を基板上の2Dバーコードに紐付けて自動保存します。
[画像]100%トレーサビリティ

供給排出完全自動化※1

基板の供給・排出を完全自動化し、省人化や品質の均一化に貢献します。
※1 オプション
[画像]供給排出完全自動化

対象ワーク

[画像]リジッド基板
リジッド基板
[画像]フレキシブル基板
フレキシブル基板
[画像]リジッドフレックス基板
リジッドフレックス基板

お問い合わせ

TEL : 053-467-3601(FA事業部代表)